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期刊名字 | IEEE Design & Test IEEE DES TEST (此期刊被最新的JCR期刊SCIE收录) LetPub评分 6.2
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声誉 7.6 影响力 4.9 速度 7.0 | |||||||||||||||||||||||||||||||
期刊ISSN | 2168-2356 | 微信扫码收藏此期刊 | ||||||||||||||||||||||||||||||
2023-2024最新影响因子 (数据来源于搜索引擎) | 1.9 点击查看影响因子趋势图 | |||||||||||||||||||||||||||||||
实时影响因子 | 截止2024年3月26日:1.492 | |||||||||||||||||||||||||||||||
2023-2024自引率 | 0.00%点击查看自引率趋势图 | |||||||||||||||||||||||||||||||
五年影响因子 | 1.9 | |||||||||||||||||||||||||||||||
JCI期刊引文指标 | 0.44 | |||||||||||||||||||||||||||||||
h-index | 72 | |||||||||||||||||||||||||||||||
CiteScore ( 2024年最新版) |
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期刊简介 |
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期刊官方网站 | https://www.ieee.org/membership-catalog/productdetail/showProductDetailPage.html?product=PER311-EPC | |||||||||||||||||||||||||||||||
期刊投稿网址 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
期刊语言要求 | 经LetPub语言功底雄厚的美籍native English speaker精心编辑的稿件,不仅能满足IEEE Design & Test的语言要求,还能让IEEE Design & Test编辑和审稿人得到更好的审稿体验,让稿件最大限度地被IEEE Design & Test编辑和审稿人充分理解和公正评估。LetPub的专业SCI论文编辑服务(包括SCI论文英语润色,同行资深专家修改润色,SCI论文专业翻译,SCI论文格式排版,专业学术制图等)帮助作者准备稿件,已助力全球15万+作者顺利发表论文。部分发表范例可查看:服务好评 论文致谢 。
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是否OA开放访问 | No | |||||||||||||||||||||||||||||||
通讯方式 | 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141 | |||||||||||||||||||||||||||||||
出版商 | IEEE Computer Society | |||||||||||||||||||||||||||||||
涉及的研究方向 | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | |||||||||||||||||||||||||||||||
出版国家或地区 | UNITED STATES | |||||||||||||||||||||||||||||||
出版语言 | English | |||||||||||||||||||||||||||||||
出版周期 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
出版年份 | 0 | |||||||||||||||||||||||||||||||
年文章数 | 59点击查看年文章数趋势图 | |||||||||||||||||||||||||||||||
Gold OA文章占比 | 6.08% | |||||||||||||||||||||||||||||||
研究类文章占比: 文章 ÷(文章 + 综述) | 100.00% | |||||||||||||||||||||||||||||||
WOS期刊SCI分区 ( 2023-2024年最新版) | WOS分区等级:3区
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中国科学院《国际期刊预警 名单(试行)》名单 | 2024年02月发布的2024版:不在预警名单中 2023年01月发布的2023版:不在预警名单中 2021年12月发布的2021版:不在预警名单中 2020年12月发布的2020版:不在预警名单中 | |||||||||||||||||||||||||||||||
中国科学院SCI期刊分区 ( 2023年12月最新升级版) | 点击查看中国科学院SCI期刊分区趋势图
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中国科学院SCI期刊分区 ( 2022年12月升级版) |
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中国科学院SCI期刊分区 ( 2021年12月旧的升级版) |
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SCI期刊收录coverage | Science Citation Index Expanded (SCIE) (2020年1月,原SCI撤销合并入SCIE,统称SCIE) Scopus (CiteScore) | |||||||||||||||||||||||||||||||
PubMed Central (PMC)链接 | http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=2168-2356%5BISSN%5D | |||||||||||||||||||||||||||||||
平均审稿速度 | 网友分享经验: | |||||||||||||||||||||||||||||||
平均录用比例 | 网友分享经验: | |||||||||||||||||||||||||||||||
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期刊常用信息链接 |
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中国学者近期发表的论文 | |
1. | A DVFS Design and Simulation Framework Using Machine Learning Models Author: Zhuo, Cheng; Gao, Di; Cao, Yuan; Shen, Tianhao; Zhang, Li; Zhou, Jinfang; Yin, Xunzhao Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 1, pp. 52-61. DOI: 10.1109/MDAT.2021.3119279 DOI |
2. | Fully Microstrip Three-Port Circuit Bandpass NGD Design and Test Author: Ravelo, Blaise; Douyere, Alexandre; Liu, Yang; Rahajandraibe, Wenceslas; Wan, Fayu; Chan, George; Guerin, Mathieu Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 1, pp. 96-104. DOI: 10.1109/MDAT.2022.3164337 DOI |
3. | Machine Learning in Advanced IC Design: A Methodological Survey Author: Chen, Tinghuan; Zhang, Grace Li; Yu, Bei; Li, Bing; Schlichtmann, Ulf Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 1, pp. 17-33. DOI: 10.1109/MDAT.2022.3216799 DOI |
4. | Topology-Aided Multicorner Timing Predictor for Wide Voltage Design Author: Cao, Peng; Yang, Tai; Wang, Kai; Bao, Wei; Yan, Hao Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 1, pp. 62-69. DOI: 10.1109/MDAT.2021.3117745 DOI |
5. | Multiplication Circuit Architecture for Error- Tolerant CNN-Based Keywords Speech Recognition Author: Liu, Bo; Cai, Hao; Zhang, Zilong; Ding, Xiaoling; Zhang, Renyuan; Gong, Yu; Wang, Zhen; Ge, Wei; Yang, Jun Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 3, pp. 26-35. DOI: 10.1109/MDAT.2021.3135346 DOI |
6. | Dependable STT-MRAM With Emerging Approximation and Speculation Paradigms Author: Cai, Hao; Hou, Yaoru; Zhang, Mengdi; Liu, Bo; Naviner, Lirida Alves de Barros Journal: IEEE DESIGN & TEST. 2023; Vol. 40, Issue 3, pp. 17-25. DOI: 10.1109/MDAT.2021.3120330 DOI |
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